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高低温存储测试

测试介绍

高低温存储测试是评估产品在极端温度环境下长期存放后,性能、功能及外观是否保持合格的可靠性测试,广泛应用于电子、汽车、航天等领域。

测试目的

验证产品在长期高温或低温存储后,是否出现材料老化、结构变形、性能衰减等问题。
提前暴露因温度应力导致的潜在缺陷,比如元器件失效、密封失效、涂层脱落等。
确认产品在存储后,能正常恢复到初始工作状态,满足后续使用要求。

测试流程

1、预处理:将产品外观、功能、关键性能(如电压、信号)进行初始检测,记录数据作为基准。
2、存储阶段:将产品放入高低温试验箱,按设定温度和时长进行高温存储或低温存储(可单独测试,也可交替测试),期间不供电、不操作。

3、恢复与检测:存储结束后,取出产品在常温下恢复,再重复初始检测项目,对比数据是否符合合格标准。

最终检测 (Final Inspection)
对恢复后的样品进行与初始检测完全相同的检查:
外观检查: 是否有开裂、变形、变色、起泡、脱落等现象。
机械性能检查: 结构是否松动,按键/接口是否失灵。
功能与性能测试: 所有电气参数和功能是否正常,性能有无衰减。


测试条件选择

产品类型 可能的高温条件 可能的低温条件 考量因素
消费类电子产品 +60°C ~ +70°C
-20°C ~ -40°C
夏季汽车后备箱、冬季北方户外运输
汽车电子 +85°C ~ +105°C
-40°C ~ -55°C
发动机舱内高温、寒带地区低温
工业设备 +70°C ~ +85°C
-20°C ~ -40°C
工厂车间环境
航空航天设备 +125°C以上
-55°C以下
高空及外太空极端环境
电池 +60°C (±5°C)
-40°C (±5°C)
高空及外太空极端环境


常见失效模式

经过高低温存储测试后,产品可能出现以下失效:
塑料、橡胶件: 变脆、开裂、硬化、失去弹性(低温);软化、变形、熔化(高温)。
液晶显示屏(LCD): 显示异常、黑屏、响应变慢。
电池: 容量永久性衰减、漏液、鼓包。
PCB及焊点: 板材分层、焊点开裂、元器件脱落。
金属部件: 腐蚀加速(尤其在高温高湿结合测试中)。
胶粘剂和密封圈: 失效,导致密封性能下降。
软件/电子: 数据丢失、参数漂移、开机失败。

参考标准

电子类:GB/T 2423.2(高温存储)、GB/T 2423.1(低温存储)。
汽车类:ISO 16750-4(电气电子设备环境条件)、VW 80000(大众汽车标准)。

与其他测试的区别

vs. 高低温工作测试:
存储测试: 产品处于关机、不通电状态。只考察温度对材料本身的影响。

工作测试: 产品处于开机、通电运行状态。考察温度对产品性能和散热等的综合影响。


vs. 温度循环测试:
存储测试: 通常在极限温度下长时间保持,侧重于材料的耐候性。

温度循环测试: 温度在高低温之间快速、反复变化,侧重于由热胀冷缩引起的疲劳损伤。


vs. 热冲击测试:
存储测试: 温度变化速率较慢。
热冲击测试: 温度变化速率极快(通常>15°C/min),冲击更剧烈。